AMS 2750E高 溫 測 定 法(六)
日期:2017-9-21 8:36:47 作者: 流量:
3.5.19.1.2 如果需要采取調(diào)整(偏置法)控制儀表,并且規(guī)定工作溫度范圍不超過300℉
(165℃),則不需再測試,但是調(diào)整量(偏置量)不能超出表6和表7中(見最大允許調(diào)整
量或偏差量欄目)的極限值。該偏差是包含在3.4.4.6中規(guī)定的所有偏置以內(nèi)。如果規(guī)定工
作溫度范圍超過300℉(165℃),必須在測試范圍的溫度極限加上偏置量,重新檢查均勻
性時(shí)。采用了偏置的測試溫度間隔不超過600℉(335℃)。任何調(diào)整量(偏置量)都應(yīng)要
求進(jìn)行記錄。在接下來的熱處理中,必須保持這個(gè)偏置 ,見3.4.5.6與后續(xù)TUS的要求。
3.5.19.1.2.1 如果合格的工作溫度范圍超過300°F(165°C),需要重新調(diào)查,其中均勻性在其中偏移的應(yīng)用測試范圍的極端溫度檢查。試驗(yàn)溫度為地方偏移應(yīng)用于每個(gè)范圍不得超過600°F(335°C)的距離。
3.5.19.1.2.2任何調(diào)整(偏移)文檔資料是一個(gè)要求。此外,任何補(bǔ)償或調(diào)整,應(yīng)在偏移所應(yīng)用的溫度范圍內(nèi)的所有后續(xù)熱處理留在原地。這將設(shè)備恢復(fù)到3.5.6后續(xù)TUSs的要求。
3.5.20溫度均勻性測量儀器儀表
3.5.20.1 溫度均勻性檢驗(yàn)應(yīng)使用校準(zhǔn)的滿足表3要求的獨(dú)立測試儀器進(jìn)行的測試,和獨(dú)立的TUS傳感器滿足表1的要求。過程熱處理的設(shè)備儀器不得用來記錄TUS傳感器數(shù)據(jù)。
3.5.20.2測試設(shè)備已知的偏差補(bǔ)償應(yīng)通過電子方法或數(shù)學(xué)方法進(jìn)行修正。
3.5.21溫度均勻性的調(diào)查報(bào)告
3.5.21.1下列事項(xiàng)應(yīng)當(dāng)包括在溫度均勻性的調(diào)查報(bào)告中:
a. 爐子名稱或編號
b.測試溫度
c. TUS傳感器和任何負(fù)載或架子的位置包括識別細(xì)節(jié)圖、具體描述或圖片。
d. 從所有記錄的傳感器的所有區(qū)域的測試爐儀表型所需的時(shí)間和溫度數(shù)據(jù)(3.5.13.3.2)
(3.5.13.3.2)
e. 每一測試溫度下TUS傳感器的修正系數(shù)
f. 已知的附加TUS補(bǔ)償(如果用于生產(chǎn))
g. 每一測試溫度下TUS傳感器的修正或未修正的讀數(shù),讀數(shù)應(yīng)該被標(biāo)識是修正的或未修正的。
h. 測試單位標(biāo)識 (如果不是自己內(nèi)部測試的)
i. 測試公司簽名 (如果不是自己內(nèi)部測試的)
j. 測試用的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
k.測試開始時(shí)間及日期
l.測試結(jié)束時(shí)間及日期
m. 測試儀器標(biāo)識編號
n.測試成功或失敗標(biāo)識
o.當(dāng)需要時(shí),爐子測試傳感器故障記錄(見3.5.16)
p.在每個(gè)測試溫度穩(wěn)定后,修正的加上和減去TUS讀數(shù)的總結(jié)。
q.質(zhì)量部門的批準(zhǔn)
3.5.21.2盡管不是均勻性的調(diào)查報(bào)告必須的部分,以下應(yīng)當(dāng)可以在現(xiàn)場:
a. 控制儀器調(diào)諧參數(shù)
b.TUS傳感器的校檢報(bào)告
c.控制和記錄傳感器的校檢報(bào)告
d. 控制和記錄傳感器、負(fù)載和TUS傳感器位置的三維圖
3.5.22本次修訂前進(jìn)行的測試,滿足先前的AMS2750版本,可以認(rèn)為等效于(對于符合條件的爐(1)免除初始溫度均勻性測試或(2)延伸的周期性溫度均勻性試驗(yàn)的間隔為目的)依據(jù)本次修訂版本進(jìn)行的測試。
3.5.23 輻射調(diào)查
對于所有的鋁合金固溶熱處理的空氣爐,當(dāng)熱源(例如,電氣元件或氣體管)是在墻壁時(shí),輻射測量應(yīng)在爐內(nèi)的最高工作溫度下進(jìn)行。該檢驗(yàn)應(yīng)進(jìn)行初始和任何可能會(huì)影響側(cè)壁板的輻射特性損壞或修理后進(jìn)行。
3.5.23.1輻射測試傳感器(S),應(yīng)加入到正常的測量的傳感器,應(yīng)錘擊到或焊接到,6061鋁合金板中間,大約12英寸(305毫米)的廣場和不大于0.125英寸(3毫米)公稱厚度。該板應(yīng)具有在空氣中被加熱到970至1010°F(520至545°C)和第一次使用前進(jìn)行風(fēng)冷。
3.5.23.2面板,一個(gè)用于熱壁區(qū)域的每個(gè)10平方英尺(0.93平方米),應(yīng)被對稱地分布,與面平行于所述加熱壁,在工作區(qū)的外部界限。輻射測試面板(S)的任一側(cè)可能面臨的熱源。
3.5.23.3所有的輻射測試傳感器讀數(shù)應(yīng)滿足3.5.17的要求。
3.6 實(shí)驗(yàn)室爐子
3.6.1 實(shí)驗(yàn)室爐子用于使用負(fù)載傳感器時(shí)根據(jù)材料規(guī)范反應(yīng)熱處理測試
3.6.1.1要求每季度系統(tǒng)精度(SAT)測試
3.6.1.2負(fù)載傳感器應(yīng)符合3.1.5
3.6.1.3爐溫控制儀表應(yīng)每季度進(jìn)行校準(zhǔn)
3.6.1.4成功的初始溫度均勻性測量(TUS)和兩個(gè)附加季度TUS測試后,TUS的測試間隔可以延長到半年。
3.6.2如果不使用負(fù)載傳感器實(shí)驗(yàn)室爐應(yīng)為生產(chǎn)所需的設(shè)備進(jìn)行測試。
3.6.3實(shí)驗(yàn)室爐不能用于任何部分或生產(chǎn)原料的熱處理生產(chǎn),除非它符合本規(guī)范的所有要求。
3.7 記錄
3.7.1所有的校準(zhǔn)和試驗(yàn)記錄包括傳感器,標(biāo)準(zhǔn)單元和儀器,系統(tǒng)精度測試,和溫度均勻性的調(diào)查,包括任何測試或調(diào)查故障應(yīng)可供檢查和保持不少于5年。
3.7.2傳感器,標(biāo)準(zhǔn)單元和儀器的校檢記錄應(yīng)包含可追溯到NIST或等效的國家標(biāo)準(zhǔn)。
3.8 舍入
舍入應(yīng)按照ASTM E 29或其他國家標(biāo)準(zhǔn)。
4. 質(zhì)量保證條款
4.1檢驗(yàn)責(zé)任
該過程將負(fù)責(zé)所有必需的性能測試是符合所規(guī)定的所有要求的。買方有權(quán)見證此處的任何規(guī)定的檢測或校準(zhǔn),以確保該程序符合規(guī)定要求的,但是這樣的見證,不得妨礙設(shè)施的經(jīng)營權(quán)。
4.1.1任何儀器、傳感器、試驗(yàn)未能滿足這些要求,或已超過其測試間隔包括任何適用的允許的延長期(見表10),應(yīng)停止服務(wù)。
4.1.1.1糾正措施應(yīng)形成文件,包括帶儀器、傳感器、測試執(zhí)行的措施。
4.2在任何測試失敗或超出偏差條件下進(jìn)行的事件,對可能影響產(chǎn)品不符合要求的自上次成功測試后進(jìn)行相應(yīng)的評估和記錄。評估應(yīng)根據(jù)建立的物質(zhì)評審程序進(jìn)行記錄。應(yīng)采取適當(dāng)?shù)募m正措施,記錄和維護(hù)文件。當(dāng)材料的加工條件偏離規(guī)范要求的影響(S)應(yīng)通知買方。
4.2.1作為適當(dāng)?shù)募m正措施的證據(jù)
表1 –傳感器和傳感器校檢
傳感器 | 傳感器配置 | 使用 | 校檢 | 最大允許誤差 | |
周期 | 反對?? | ||||
參考標(biāo)準(zhǔn) | R和型貴金屬電偶 | 初次標(biāo)準(zhǔn)校檢 | 5年 | NIST參考標(biāo)準(zhǔn) | 無 |
一級標(biāo)準(zhǔn) | R和型貴金屬電偶 | 二級標(biāo)準(zhǔn)校檢 | 3年 | 參考標(biāo)準(zhǔn) | ±1.0℉(±0.6℃)或±0.1% |
二級標(biāo)準(zhǔn) | 廉金屬 或貴金屬 R和S型
| 傳感器校檢 | 首次使用前 校驗(yàn): R或S型-2年 廉金屬-1年
| 一級標(biāo)準(zhǔn) | 廉金屬 ±2℉(±1.1℃) 或±0.4% 貴重金屬 ±1.0℉(±0.6℃) 或±0.1%
|
B型貴金屬 | B型-2年 | B型-±1.0℉(±0.6℃)或±0.5% | |||
爐溫均勻性測試 | 廉金屬或貴金屬B、R和S型 | 爐溫均勻性測試 | 首次使用前 校驗(yàn): ⑺⑻ B 、 R 或 S 型…6個(gè)月 J或N型…3個(gè) 月 其他普通金 屬…不定期
| Ⅰ類或Ⅱ類標(biāo)準(zhǔn) | ±4℉(±2.2℃)或±0.75% |
系統(tǒng)精度測試 | 廉金屬 或貴金屬 B、R和S型 | 系統(tǒng)精度測試 | Ⅰ類或Ⅱ類 標(biāo)準(zhǔn)
| 廉金屬±2℉(±1.1℃)或±0.4% 貴金屬±1.5℉(±1.0℃)或±0.25%或 R、S型±0.25% (B型 ±0.5%)
| |
控制、記錄和監(jiān)視傳感器 | 廉金屬或貴金屬B、R、S型 | 安裝在設(shè)備 上
| 首次使用前 | 一級或二級標(biāo)準(zhǔn) | 1 類或 2 類: ±2℉ (±1.1℃)或 ±0.4% 3 類到 6 類: ±4℉ (±2.2℃)或 ±0.75%
|
負(fù)載傳感器 | 廉金屬或貴金屬B、R、S型 | 直接與零件 相接觸
| 首次使用前 校驗(yàn): B、R或S 型…6個(gè)月 其他普通金 屬…不定期
| 一級或二級標(biāo)準(zhǔn) | ±4℉(±2.2℃)或±0.75% |
表1說明
⑴ 允許使用精度相同或者更高精度(在允許偏差范圍內(nèi))的熱電偶。
⑵ 讀數(shù)百分比或溫度修正系數(shù)任何時(shí)候均以大者為準(zhǔn)。
(3)重新校檢要求在表1中概述和支持3.1.3到3.1.4
(4) 參考標(biāo)準(zhǔn)的傳感器可用于校準(zhǔn)低級別的傳感器。
(5) 校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)參照NIST或同等國家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行
(6)3.1.3.3到3.1.3.4不適用本表
(7) 參考標(biāo)準(zhǔn)傳感器與一個(gè)主要標(biāo)準(zhǔn)儀器一起應(yīng)用于校準(zhǔn)基準(zhǔn)傳感器
(8) 一個(gè)主要的標(biāo)準(zhǔn)傳感器與一個(gè)主要標(biāo)準(zhǔn)儀器一起應(yīng)用于校準(zhǔn)傳感器的二級標(biāo)準(zhǔn)
(9)使用應(yīng)限于溫度均勻性,標(biāo)定系統(tǒng)的精度,控制,監(jiān)測,記錄,和負(fù)載傳感器的校檢。
(10) 一級或二級標(biāo)準(zhǔn)的傳感器與一級或二級標(biāo)準(zhǔn)儀器應(yīng)用于校準(zhǔn)這些傳感器
(11) 對于類型E和K,在500 °F (260 °C)溫度下使用時(shí)允許重新校檢,在500 °F (260 °C)以上溫度使用時(shí)不允許重新校檢。
(12) 傳感器類型在表2中未列出的2400以上的,用°F(1316°C),最大允許誤差±1%。如果誤差超過表1的最大允許誤差,傳感器校正系數(shù)應(yīng)在每個(gè)應(yīng)用程序中使用。對于未列在表2中的傳感器類型,2400 °F (1316 °C)溫度以上使用,最大允許偏差是±1%.如果偏差超過了表1的最大允許值傳感器校正系數(shù)應(yīng)在每個(gè)應(yīng)用程序中使用。
表2-熱電偶和補(bǔ)償導(dǎo)線
類型 | 熱電偶 | 補(bǔ)償導(dǎo)線 | |||
正極(成份 wt%) | 負(fù)極(成份 wt%) | 電極色標(biāo)(1) | 導(dǎo)線標(biāo)志(正/負(fù)) | 套管色標(biāo) | |
J | Fe | 55Cu/45Ni | 白/紅 | JPX/JNX
| 黑色 |
E | 90Ni/10Cr | 55Cu/45Ni | 紫/紅 | EPX/ENX | 紫色 |
K | 90Ni/10Cr | 95Ni/5,Al+Si | 黃/紅 | KPX/KNX | 黃色 |
N | 84.5Ni/14Cr/1.5Si | 95.4Ni/4.5Si/0.1Mg | 橙/紅 | NPX/NNX | 橙色 |
R | 87Pt/13Ph | Pt | 黑/紅 | RPX/RNX or SPX/SNX | 綠色 |
B | 70Pt/30Ph | 94Pt/6Rh | 灰/紅 | BPX/BNX | 灰色 |
S | 90Pt/10Ph | Pt | 黑/紅 | RPX/RNX or SPX/SNX | 綠色 |
T | Cu | 55Cu/45Ni | 藍(lán)/紅 | TPX/TNX | 藍(lán)色 |
(1)所有的色標(biāo)狀態(tài)應(yīng)符合ASTM 230的規(guī)定,滿足其他國家標(biāo)準(zhǔn)的色標(biāo)可以使用。
表3-儀器和儀器校檢
儀器 | 儀器類型 | 最大校檢期(月) | 標(biāo)準(zhǔn) | 校檢精度(1) | 用途 |
基準(zhǔn)儀器 | 奇納電壓
| 36 | NIST | 參照NIST | 限于一級標(biāo)準(zhǔn)的校驗(yàn)
|
主要標(biāo)準(zhǔn) | 電位計(jì) 數(shù)字伏特計(jì) | 36 | 參考標(biāo)準(zhǔn) | ±0.1℉ (±0.05℃) 或讀數(shù)±0.015%, 兩者取大
| 限于二級標(biāo)準(zhǔn)和測試儀器和一級和二級標(biāo)準(zhǔn)傳感器的實(shí)驗(yàn)室校檢和 |
4個(gè)或更多韋斯頓電池組 或與DC標(biāo)準(zhǔn)等效的電池組 | 12(2) | 基準(zhǔn)儀器
| 電池額定毫安 讀數(shù)的±0.005%, | 限于儀表和二等標(biāo)準(zhǔn)電 池和儀表標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn) | |
二級標(biāo)準(zhǔn)儀器 | 電位計(jì)或數(shù)字電壓 計(jì) | 12 | 一級標(biāo)準(zhǔn) 或一級標(biāo)準(zhǔn) 電池 | ±0.3℉(±0.2℃)或讀數(shù)±0.05%, 兩者取大 | 限于現(xiàn)場測試儀表/SAT 傳感器/ TUS傳感器/負(fù)載、控制、報(bào)警和記錄傳感器的實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn)
|
二級 標(biāo)準(zhǔn) 電池
| 2個(gè)或更多飽和或不飽和韋斯頓電池組或與DC標(biāo)準(zhǔn)等效的電池組 | 12 | 一級標(biāo)準(zhǔn) 電池
| 電池額定毫安讀數(shù) 的±0.005%,
| 限于二等標(biāo)準(zhǔn)儀表的實(shí) 驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)化 和測試儀表的實(shí)驗(yàn)室校 準(zhǔn)
|
現(xiàn)場 測試 儀表
| SAT/TUS便攜式電位計(jì) ⑴、數(shù)字伏特計(jì)、電子數(shù)據(jù)記錄器或數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
| 3 | 一級或 次級標(biāo)準(zhǔn)
| ±1℉(±0.6℃)或讀數(shù)±0.1%,兩者取大
| 限于控制、監(jiān)側(cè)或記錄儀表的校準(zhǔn)。 進(jìn)行TUS和SAT ⑺
|
控制、監(jiān)視或記錄儀器 | 數(shù)字儀表 ⑷⑸ ⑹⑻
| 見附注 ⑸
| 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
| ±2℉(±1.1℃)或讀數(shù)的±2%,兩者取最大者 | 加熱設(shè)備溫度的測量,記錄和控制 |
電子自動(dòng)儀表 | 見附注(5) | 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
| ±2℉(±1.1℃)或設(shè)備的最大測試溫度±0.3%,兩者取最大 | ||
機(jī)械或熱元件 | 見附注(5) | 對比試驗(yàn) (等同于 SAT)
| ±5℉(±3℃) | 用于測量制 冷、淬火槽熱處理設(shè)備
|
表3說明
⑴允許使用等效或更高精度的儀器儀表。
⑵每月須進(jìn)行電池間對比檢查。
⑶電池具有±0.02℉(±0.01℃)的溫度控制能力。
⑷一級和二級儀表的最小靈敏度1℉(1℃),3到6級設(shè)備最小靈敏度3℉(2℃)。
⑸控制、監(jiān)測和記錄儀表的校準(zhǔn)周期要求應(yīng)為如下:
數(shù)字 模擬(電動(dòng)機(jī)械式)
1級爐子 --- 一個(gè)月 1級爐子 --- 一個(gè)月
2級爐子 --- 一季度 2級爐子 --- 一個(gè)月
3級爐子 --- 一季度 3級爐子 --- 一季度
4級爐子 --- 一季度 4級爐子 --- 一季度
5級爐子 --- 半年 5級爐子 --- 一季度
6級爐子 --- 半年 6級爐子 --- 一季度
制冷和冷卻介質(zhì)的監(jiān)測(數(shù)字或模擬)–每半年。例外:如果介質(zhì)/冰箱傳感器與爐子記錄程序通道相連,儀器通道的校檢周期應(yīng)與設(shè)備其他通道校檢周期一致.
⑹爐子的控制、記錄、監(jiān)測和數(shù)據(jù)采集儀表
⑺滿足二級標(biāo)準(zhǔn)精度要求的現(xiàn)場測試儀表可用于校準(zhǔn)SAT和TUS測試儀表。
⑻僅用作爐子超溫報(bào)警的溫度儀表不需校準(zhǔn)。
⑼ NIST或等效的國家標(biāo)準(zhǔn).
(10) 包括無線傳輸系統(tǒng)
(11) 儀器在受控環(huán)境中操作,不應(yīng)用于車間。
表4-加熱爐所需記錄紙的分辨率(模擬記錄儀器) (1)(2)(3)
爐子類別 | 爐溫均勻性 | 每英寸(厘米)記錄紙最大量程 | 記錄圖表的最大增量 | |||
℉ | ℃ | ℉/英寸 | ℃/厘米 | ℉/行 | ℃/行 | |
1 | ±5 | ±3 | 50 | 11 | 2 | 1 |
2 | ±10 | ±6 | 150 | 33 | 5 | 3 |
3 | ±15 | ±8 | 150 | 33 | 5 | 3 |
4 | ±20 | ±10 | 250 | 55 | 10 | 5 |
5 | ±25 | ±14 | 250 | 55 | 10 | 5 |
6 | ±50 | ±28 | 350 | 77 | 25 | 15 |
冷卻 | n/a | n/a | 150 | 33 | 5 | 3 |
淬火 | n/a | n/a | 150 | 33 | 5 | 3 |
(1) 在AMS2750D發(fā)行一年后,加熱爐所需記錄紙需要求滿足以上要求,詳見3.2.1
(2) 數(shù)顯儀表應(yīng)精確到1℉或1℃。
(3)打印記錄時(shí)間的記錄儀,每個(gè)信道追蹤間隔不超過表5要求的被認(rèn)為是數(shù)字記錄儀,表4要求不適用.
表5-記錄打印過程和記錄速度
記錄儀類型 | 打印間隔(1)(2) | 記錄速度(3) | |
圓圖記錄儀 | 在每個(gè)溫度以 定時(shí)的打印間 隔 至 少 打 印 6 次。打印間隔不 超過15分鐘 | 對于溫度段的時(shí)間小于1小時(shí)=最大8小時(shí)/每轉(zhuǎn)1周 | 對于溫度段的時(shí)間≥1小時(shí)=最大24小時(shí)/每轉(zhuǎn)1周 |
長圖記錄儀 | 對于時(shí)間段小于1小時(shí)=最小2英寸/小時(shí)(或最小50mm/h) | 對于時(shí)間段≥1小時(shí) =最小1英寸/小時(shí)(或最小25mm/h) | |
數(shù)字顯示儀 | 不適用 |
⑴ 在AMS2750D發(fā)行一年后,加熱爐所需記錄紙需要求滿足以上要求,詳見3.2.1和3.2.2,自本修訂日期起3年后所有儀器需滿足。
⑵ 記錄儀將記錄產(chǎn)品在加熱爐中的整段時(shí)間。
⑶ “溫度段”參考熱處理時(shí)的循環(huán)溫度。
⑷ 為了符合最低冷卻速率,打印最小間隔可能會(huì)被改變。
表6-部分加熱爐類別、儀表類型和SAT校驗(yàn)周期
爐子類型 | 爐溫均勻性 | 最低儀表類型 | 正常的SAT隔 | 允許的SAT最大間隔[3.4.3] | 最大SAT差異(2) | 最大允許調(diào)整(補(bǔ)償)(1)(2)(3) | |||||
℉ | ℃ | ℉ | ℃ | 讀數(shù)% | ℉ | ℃ | 最大合格操作溫度% | ||||
1 | ±5 | ±3 | D | 每周 | 每周 | ±2
| ±1.1
| 0.2 | ±2.5
| ± 1.5 | - |
B,C | 每周 | 每兩周 | |||||||||
A | 每兩周 | 每月 | |||||||||
2 | ±10 | ±6 | D | 每周 | 每周 | ±3 | ±1.7 | 0.3 | ±5 | ±3 | - |
B,C | 每兩周 | 每月 | |||||||||
A | 每月 | 每季度 | |||||||||
3 | ±15 | ±8 | D | 每兩周 | 每月 | ±4 | ±2.2 | 0.4 | ±8 | ±5 | 0.38 |
B,C | 每月 | 每季度 | |||||||||
A | 每季度 | 每半年 | |||||||||
4 | ±20 | ±10 | D | 每兩周 | 每月 | ±4 | ±2.2 | 0.4 | ±10 | ±6 | 0.38 |
B,C | 每月 | 每季度 | |||||||||
A | 每季度 | 每半年 | |||||||||
5 | ±25 | ±14 | D | 每兩周 | 每月 | ±5 | ±2.8 | 0.5 | ±13 | ±7 | 0.38 |
B,C | 每月 | 每季度 | |||||||||
A | 每季度 | 每半年 | |||||||||
6 | ±50 | ±28 | E | 每半年 | 每半年 | ±10 | ±5.6 | 1.0 | - | - | 0.75 |
冷卻和淬火 | 每半年 | 每半年 | ±5 | ±2.8 | N/A | ±10 | ±6 | N/A | |||
(1)最大允許調(diào)整(補(bǔ)償)應(yīng)與手動(dòng)和電子方法一致 (2)兩者取大者(℉或℃,或讀數(shù)的%) (3)SAT和TUS的補(bǔ)償是獨(dú)立的,每個(gè)的允許最大值。 |
表7-原材料加熱爐類別,儀表類型和SAT校驗(yàn)周期
爐子類型 | 爐溫均勻性 | 最低儀表類型 | 正常的SAT隔 | 允許的SAT最大間隔[3.4.3] | 最大SAT差異(2) | 最大允許調(diào)整(補(bǔ)償)(1)(2)(3) | |||||
℉ | ℃ | ℉ | ℃ | 讀數(shù)% | ℉ | ℃ | 最大合格操作溫度% | ||||
1 | ±5 | ±3 | D | 每周 | 每周 | ±2
| ±1.1
| 0.2 | ±2.5
| ± 1.5 | - |
B,C | 每周 | 每兩周 | |||||||||
A | 每兩周 | 每月 | |||||||||
2 | ±10 | ±6 | D | 每周 | 每周 | ±3 | ±1.7 | 0.3 | ±5 | ±3 | - |
B,C | 每兩周 | 每月 | |||||||||
A | 每月 | 每季度 | |||||||||
3 | ±15 | ±8 | D | 每兩周 | 每月 | ±4 | ±2.2 | 0.4 | ±8 | ±5 | 0.38 |
B,C | 每月 | 每季度 | |||||||||
A | 每季度 | 每半年 | |||||||||
4 | ±20 | ±10 | D | 每兩周 | 每月 | ±4 | ±2.2 | 0.4 | ±10 | ±6 | 0.38 |
B,C | 每月 | 每季度 | |||||||||
A | 每季度 | 每半年 | |||||||||
5 | ±25 | ±14 | D | 每兩周 | 每月 | ±5 | ±2.8 | 0.5 | ±13 | ±7 | 0.38 |
B,C | 每月 | 每季度 | |||||||||
A | 每季度 | 每半年 | |||||||||
6 | ±50 | ±28 | E | 每半年 | 每半年 | ±10 | ±5.6 | 1.0 | - | - | 0.75 |
冷卻和淬火 | 每半年 | 每半年 | ±5 | ±2.8 | N/A | ±10 | ±6 | N/A | |||
(1)最大允許調(diào)整(補(bǔ)償)應(yīng)與手動(dòng)和電子方法一致 (2)兩者取大者(℉或℃,或讀數(shù)的%) (3)SAT和TUS的補(bǔ)償是獨(dú)立的,每個(gè)的允許最大值。 |
表8-部分加熱爐類別、儀表類型和TUS校驗(yàn)周期
爐子類型 | 爐溫均勻性 | 最低儀表類型 | TUS初始測試間隔 | 連續(xù)的TUS成功次數(shù)(1) | 定期增加的TUS間隔 | |
℉ | ℃ | |||||
1 | ±5 | ±3 | D | 每月 | 8 | 每兩月 |
B,C | 每月 | 4 | 每季度 | |||
A | 每月 | 2 | 每半年 | |||
2 | ±10 | ±6 | D | 每月 | 8 | 每兩月 |
B,C | 每月 | 4 | 每季度 | |||
A | 每月 | 2 | 每半年 | |||
3 | ±15 | ±8 | D | 每季度 | 4 | 每半年 |
B,C | 每季度 | 3 | 每半年 | |||
A | 每季度 | 2 | 每年 | |||
4 | ±20 | ±10 | D | 每季度 | 4 | 每半年 |
B,C | 每季度 | 3 | 每半年 | |||
A | 每季度 | 2 | 每年 | |||
5 | ±25 | ±14 | D | 每季度 | 4 | 每半年 |
B,C | 每季度 | 3 | 每半年 | |||
A | 每季度 | 2 | 每年 | |||
6 | ±50 | ±28 | E | 每年 | 不適用 | 每年 |
冷卻設(shè)備和淬火槽不需要TUS測試 |
(1)連續(xù)的成功測試次數(shù)要求在增加TUS測試間隔時(shí)間以前。
表9-原材料加熱爐類別,儀表類型和TUS校驗(yàn)周期
爐子類型 | 爐溫均勻性 | 最低儀表類型 | TUS初始測試間隔 | 連續(xù)的TUS成功次數(shù)(1) | 定期增加的TUS間隔 | |
℉ | ℃ | |||||
1 | ±5 | ±3 | D | 每月 | 8 | 每半年 |
B,C | 每季度 | 4 | 每半年 | |||
A | 每季度 | 2 | 每半年 | |||
2 | ±10 | ±6 | D | 每月 | 8 | 每半年 |
B,C | 每季度 | 4 | 每半年 | |||
A | 每季度 | 2 | 每半年 | |||
3 | ±15 | ±8 | D | 每季度 | 4 | 每半年 |
B,C | 每半年 | 3 | 每年 | |||
A | 每半年 | 2 | 每年 | |||
4 | ±20 | ±10 | D | 每季度 | 4 | 每半年 |
B,C | 每半年 | 3 | 每年 | |||
A | 每半年 | 2 | 每年 | |||
5 | ±25 | ±14 | D | 每季度 | 4 | 每半年 |
B,C | 每半年 | 3 | 每年 | |||
A | 每半年 | 2 | 每年 | |||
6 | ±50 | ±28 | E | 每年 | 不適用 | 每年 |
冷卻設(shè)備和淬火槽不需要TUS測試 |
表10-校準(zhǔn)/測試周期允許延長期限
校檢/測試周期 | 到期后允許延遲的期限(天) |
每周 | 1 |
每兩周 | 2 |
每月 | 3 |
每季度 | 4 |
每半年 | 6 |
每年 | 12 |
表11:箱式加熱爐、鹽浴槽、受控溫度液體槽、流態(tài)化爐或連續(xù)式加熱爐采用體積法進(jìn)行TUS測試時(shí)所需傳感器數(shù)量(1)(2)
工作區(qū)域容積 小于 | 3立方英尺(0.085 m3) | 225立方英尺(6.4m3) | 300立方英尺(85m3) | 400立方英尺(11m3) | 600立方英尺(17m3) | 800立方英尺(23m3) | 1000立方英尺(28m3) | 2000立方英尺(57m3) | 3000立方英尺(85 m3) | 4000立方英尺(1135m3) |
一類和二類傳感器數(shù)量(1) | 5 | 9 | 14 | 16 | 19 | 21 | 23 | 30 | 35 | 40 |
一類和二類傳感器數(shù)量(1) | 5 | 9 | 12 | 13 | 14 | 15 | 16 | 20 | 23 | 25 |
每支一類和二類傳感器覆蓋區(qū)域
| <1 | 25 | 21 | 25 | 32 | 38 | 43 | 67 | 86 | 100 |
每支一類和二類傳感器覆蓋區(qū)域 | <1 | 25 | 25 | 31 | 43 | 53 | 63 | 100 | 130 | 160 |
⑴對于鹽浴槽TUS測試只采用單一熱電偶,不使用上表的傳感器數(shù)量。
⑵對于容積大于4000ft3(113m3)的加熱爐允許使用下面的公式計(jì)算采用的傳感器數(shù)量:
●一類和二類爐:9+1/2[爐子容積(立方英尺)-225立方英尺]或者
9+1/2[35.3х爐子容積(立方米)-6.4立方米]
●3類和6類爐:9+1/4[爐子容積(立方英尺)-225立方英尺]或者
9+1/4[35.3х爐子容積(立方米)-6.4立方米]
⑶對于容積小于4000ft3(113m3)的加熱爐允許使用上面的公式計(jì)算,也可直接套用表11
所使用的傳感器數(shù)量。
5.發(fā)運(yùn)準(zhǔn)備
不適用
6.接受
不適用
7.拒收
不適用
8.說明
8.1本標(biāo)準(zhǔn)首頁左上角為方便用戶查找的修訂標(biāo)識區(qū),標(biāo)明(l)的表示條款更改時(shí)未進(jìn)
行編輯改動(dòng),原版技術(shù)文件仍可沿用;標(biāo)明(R)的表示一對技術(shù)文件進(jìn)行全面校訂,包括
專門進(jìn)行校訂,更改內(nèi)容已不適用于原版技術(shù)文件,編輯改動(dòng)也同樣不適用于原版技術(shù)文
件。
8.2在英寸/磅單位和華氏溫度的尺寸和性能是主要的,在SI單位和攝氏溫度的尺寸和性能都表現(xiàn)為基本單位的近似等價(jià)物,僅供參考.
由AMEC和AMS委員會(huì)B編制
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