3.2.7 電子記錄

3.2.7.1“電子記錄”是文本，圖形，數(shù)據(jù)，音頻，圖畫的的任意組合或是可以通過電腦系統(tǒng)創(chuàng)建，修改，維護(hù)，歸檔，檢索的其他數(shù)字形式的信息表達(dá)。當(dāng)使用一個(gè)創(chuàng)建電子記錄的系統(tǒng)（爐子控制，記錄，監(jiān)控和數(shù)據(jù)采集），且系統(tǒng)在2006年9月以后購(gòu)買或電子記錄是在2015年（本次版本修訂以后3年）創(chuàng)建的，則應(yīng)符合下列要求：

3.2.7.1.1該系統(tǒng)必須創(chuàng)建未檢測(cè)就不能改變的電子記錄。

3.2.7.1.2系統(tǒng)軟件和播放工具提供了一種檢查和編譯記錄數(shù)據(jù)的方式，但是不能提供任何改變?cè)瓟?shù)據(jù)的方式。

3.2.7.1.3系統(tǒng)應(yīng)提供生成的記錄準(zhǔn)確，系統(tǒng)應(yīng)有準(zhǔn)確生成可讀的，電子形式的，適合檢查、總結(jié)和復(fù)制人完整的副本的能力。

3.2.7.1.3.1該系統(tǒng)應(yīng)有提供記錄被審查過的證據(jù)的能力-如通過記錄電子審核，或用打印物理標(biāo)記表明記錄被審查過的方法。

3.2.7.1.4該系統(tǒng)應(yīng)該支持在整個(gè)記錄保存期數(shù)據(jù)能被保護(hù)、保留和精確檢索記錄。確保硬件和軟件在3.7規(guī)定的記錄保存期內(nèi)正常運(yùn)行。

3.2.7.1.5該系統(tǒng)應(yīng)該提供方法（如：密碼）來(lái)限制個(gè)人授權(quán)文件的訪問。

3.3 熱處理設(shè)備 

3.3.1在圖1中定義的爐子分類是基于指定爐子類型，或者當(dāng)沒有指定具體爐型時(shí)，爐子的類型應(yīng)滿足被處理材料的材料規(guī)范中建立的溫度均勻性要求。 儀器類型由儀表所用的熱處理裝置的控制，記錄或表明所要求的溫度的水平定義。系統(tǒng)精度測(cè)試、爐溫均勻性測(cè)試的間隔，控制、監(jiān)視和記錄儀器的校檢都基于爐子的組合類型和儀表類型。（見表3,6，，7,8,或9）

 爐子類型   爐溫均勻性范圍   (℉) (1) 爐溫均勻性范圍   (℃) (1)

1 ±5 ±3

2 ±10 ±6

3 ±15 ±8

4 ±20 ±10

5 ±25 ±14

6 ±50 ±28

（1）均勻度范圍要求是由正在處理材料的規(guī)范確定。

                     圖2-爐子類型均勻性范圍

3.3.2爐子儀器配置分類要求如圖3所列

                                                                          儀器類型

傳感器（S）的儀器類型要求                                        A     B     C     D     E

每個(gè)區(qū)域至少一個(gè)控制傳感器控制和顯示溫度                                 

每個(gè)控制區(qū)應(yīng)有一個(gè)記錄儀表記錄控制偶溫度。另外，記錄

儀器要與同控制傳感器有相同護(hù)套和支架的二級(jí)傳感器相連。

且距離控制傳感器不超過0.38英寸（10mm）。

至少要在每個(gè)控制區(qū)域安置兩臺(tái)附加的記錄傳感器，以便

能最佳地顯示最近溫度均勻性檢測(cè)產(chǎn)生的最冷和最熱的溫

度。盡管大家都知道某些電爐的設(shè)計(jì)/負(fù)載配置可能會(huì)阻止

這些傳感器精確地安置在最冷和最熱的位置，但是應(yīng)盡可

能地按實(shí)際情況安置這些傳感器。這些記錄位置時(shí)間長(zhǎng)了

可能會(huì)發(fā)生改變。可參照 3.5.18 要求重新安置。

多區(qū)域爐子的每個(gè)裝載區(qū)至少一個(gè)記錄負(fù)載傳感器，空載區(qū)（即沒有

材料放置和侵入的地方）不需要負(fù)載傳感器，然而，必須在爐子的裝

載記錄上做標(biāo)記標(biāo)出該區(qū)域?yàn)橥耆�空載。

圖3-儀器配置要求

3.3.3冷卻設(shè)備和制冷系統(tǒng)

3.3.3.1冷卻設(shè)備應(yīng)有一個(gè)溫度控制器，這個(gè)溫度控制器要求不適用于液態(tài)氮、干冰和干冰與水混合物，所有的冷卻設(shè)備當(dāng)有時(shí)間-溫度（最小或最大）要求時(shí)，需要有一個(gè)溫度記錄儀器。以上要求不適用于材料在環(huán)境溫度中的運(yùn)輸過程。

3.3.3.2 用于熱處理淬火系統(tǒng)，包括淬火介質(zhì)溫度要求（最小，最大或兩者）應(yīng)配備一個(gè)記錄儀器。現(xiàn)有的于2005年9月以前安裝的不要求記錄儀，直到本版本修訂發(fā)布后3年。

3.3.4 附加傳感器

在任何控制區(qū)，對(duì)附加的記錄或負(fù)載電偶沒有限制，但是他們的使用必須有控制操作說(shuō)明書。

3.3.5 在需要的時(shí)候（儀器類型A和C–見圖3），高溫和低溫傳感器，可以插入在散熱片（見2.2.24），當(dāng)TUS用到類似配置的散熱片時(shí)，位于控制區(qū)域的高溫和低溫位置是根據(jù)最新的TUS測(cè)試。

3.3.6

 在小于或等于225立方英尺（6.4平方米）的多區(qū)域真空爐的真空有效區(qū)內(nèi)有A型、B型或C型的儀表監(jiān)控，

.不管真空爐內(nèi)控制偶和其他儀器的數(shù)量，為確定高溫和低溫記錄偶位置及負(fù)載偶的數(shù)量，將爐子工作的真空區(qū)域當(dāng)做一個(gè)單獨(dú)的區(qū)域是被允許的。.最低的傳感器要求見圖4所示，每個(gè)爐子有效區(qū)必須有超溫保護(hù)裝置。

3.3.6.1 大于225立方英尺（6.4平方米）的真空爐可以以同樣的方式將爐子分割成不大于225立方英尺（6.4平方米）的有效區(qū)，每個(gè)這種有效區(qū)應(yīng)包括表4所列的每個(gè)單獨(dú)區(qū)域要求的所有的傳感器。

  最低數(shù)量要求

   儀表類型                  高溫T/C               低溫 T/C                    負(fù)載T/C

A                            1                     1                            1

B                            N/A                 N/A                           1

C                            1                      1                           N/A

                            圖4-每個(gè)區(qū)域最少傳感器要求    

3.4 系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)

SAT（2.2.62）是用儀器/導(dǎo)線/傳感器的現(xiàn)場(chǎng)讀數(shù)值與校準(zhǔn)測(cè)試儀器/導(dǎo)線/傳感器的讀數(shù)值來(lái)確定測(cè)量溫度偏差是否符合要求，執(zhí)行SAT是為了確保每個(gè)控制區(qū)的爐子控制和記錄系統(tǒng)的精度。

3.4.1 SATs應(yīng)在對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行熱處理的熱處理設(shè)備的每個(gè)控制區(qū)的溫度控制和記錄系統(tǒng)中進(jìn)行測(cè)試，系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)也可在符合A、B、C型儀表配置的附加系統(tǒng)中進(jìn)行。

3.4.1.1 系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試儀器應(yīng)滿足表3的要求，測(cè)試傳感器應(yīng)滿足表1的要求。

3.4.2系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)的首次測(cè)試和周期性測(cè)試應(yīng)滿足表6、表7和3.4.5

3.4.2.1 在任何可能影響系統(tǒng)精度的維護(hù)后均需要進(jìn)行系統(tǒng)進(jìn)度測(cè)試，比如更換傳感器，更換控制、模擬和記錄儀器，或做過任何調(diào)整后的控制、模擬、記錄儀器的重新校檢。質(zhì)量保證部門應(yīng)裁決在特定維修之后是否需要進(jìn)行新的SAT。

3.4.2.2 An SAT 不需要僅有超溫保護(hù)功能的溫度傳感器，如果超溫保護(hù)傳感器用于SAT間隔延長(zhǎng)的附加模擬傳感器，或A、C（圖3）型的高溫傳感器，要求進(jìn)行系統(tǒng)精度測(cè)試。

3.4.2.3 不用于產(chǎn)品熱處理驗(yàn)收部分的傳感器不需要SAT測(cè)試。

3.4.2.4 如果不在表6、7要求的間隔期內(nèi)進(jìn)行系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)，該設(shè)備應(yīng)該移除不在使用，爐子第一次使用或重新使用均需要進(jìn)行系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)。

3.4.3系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)間隔由設(shè)備類型和儀器配置決定，SAT 執(zhí)行的頻率基于設(shè)備類別和儀器類型。如果預(yù)防性保養(yǎng)計(jì)劃（見 8.2.35）是有效的，那么執(zhí)行的頻率可以可以按照表6、7的最大允許要求執(zhí)行（例如每周改成雙周，雙周改成每月等），在任一以下條件下表 6 或表 7 是允許的：

3.4.3.1 每個(gè)控制區(qū)的2支傳感器類型是B,N,R或S型。

3.4.3.2 每周的讀數(shù)顯示了在每個(gè)控制區(qū)域，控制傳感器和另外一個(gè)附加監(jiān)視或記錄傳感器之間的關(guān)系。在最后一次溫度均勻性檢測(cè)的時(shí)候，該讀數(shù)仍舊在他們關(guān)系的 2℉（1℃）之內(nèi)。

萬(wàn)一讀數(shù)超出了該范圍，SAT的測(cè)試間隔應(yīng)恢復(fù)到正常測(cè)試間隔（不在是最大允許間隔），

直到下次爐溫均勻性測(cè)試。

3.4.4對(duì)SAT可以使用3種方法的任何一種來(lái)完成

3.4.4.1按照3.4.5的要求執(zhí)行系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)

3.4.4.2系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)的替代程序定義在3.4.6中。

3.4.4.3系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)豁免程序，如3.4.7中所述

3.4.5系統(tǒng)精度測(cè)試 (SATs)程序

3.4.5.1 在生產(chǎn)中，指示和/或記錄傳感器測(cè)試顯示的測(cè)試溫度，帶有的補(bǔ)償或校正因子，在任何工作溫度，應(yīng)與校正溫度指示該測(cè)試傳感器在相比。應(yīng)與測(cè)試儀器上顯示的傳感器溫度進(jìn)行對(duì)比。3.4.5.2 SAT傳感器的端頭（測(cè)量端）應(yīng)盡可能接近控制、監(jiān)視和記錄傳感器的端頭的實(shí)際端頭（測(cè)量端），兩端頭的距離不應(yīng)超過3英寸（76mm）。隨后的SAT測(cè)試所用的測(cè)試電偶，應(yīng)與初次測(cè)試時(shí)插在相同的位置和深度，SAT傳感器可能是臨時(shí)插入進(jìn)行測(cè)試或可能是一個(gè)常駐測(cè)試傳感器，根據(jù)局限性3.4.5.2.1

3.4.5.2.1 常駐熱電偶的使用受以下條件限制。

3.4.5.2.1.1固定 SAT 熱電偶僅限于在溫度超過 500℉（260℃）時(shí)的 N,R 或 S型電偶，并

且當(dāng)暴露在溫度高于 1000 ℉（538℃）時(shí)應(yīng)為非消耗型的。

3.4.5.2.1.2常駐的SAT傳感器類型應(yīng)是不同于測(cè)試電偶，附加的限制適用于各類R和S（圖5）。

                       爐內(nèi)控制監(jiān)視或記錄傳感器

常駐SAT傳感器           B     R     S      N       其他所有傳感器類型

       B             No   Yes    Yes     Yes          Yes

           R             Yes   No    No     Yes           Yes

S             Yes   No    No     Yes           Yes

N             Yes   Yes   Yes     No            Yes

圖5 –在溫度高于500 °F (260 °C)時(shí)常駐SAT傳感器和測(cè)試傳感器的允許組合

3.4.5.3 系統(tǒng)精度測(cè)試誤差

測(cè)試爐子的傳感器讀數(shù)（傳感器、引線和儀器）與測(cè)試系統(tǒng)的正確讀數(shù)（使用了測(cè)試電偶和測(cè)試儀器的修正系數(shù)以后）之間的差異應(yīng)被記錄為系統(tǒng)精度測(cè)試差異。應(yīng)使用適用的修正系數(shù)。

3.4.5.3.1 在日常的熱處理生產(chǎn)中，爐子的儀器、傳感器溫度應(yīng)與SAT測(cè)試的儀器、傳感器溫度進(jìn)行比較并做記錄。一定的修正系數(shù)，如果在生產(chǎn)過程中熱處理貫徹應(yīng)用按照文件的程序，可代數(shù)應(yīng)用到系統(tǒng)中進(jìn)行測(cè)試。

在常規(guī)的熱處理生產(chǎn)中，可以結(jié)合使用修正因子的例子（圖6）

包括：

無(wú)論在初始校準(zhǔn)報(bào)告中，或者重新校準(zhǔn)報(bào)告中（不論是在實(shí)驗(yàn)室或現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行校準(zhǔn)）列出傳感器校正因子。只有最近的傳感器校正因子可能被應(yīng)用。

控制或記錄儀器的修正系數(shù)應(yīng)在最近的校檢報(bào)告中列出。

控制或記錄儀的內(nèi)部偏移完全糾正偏斜使溫度均勻分布。

先前記錄指定了控制儀器偏移，以糾正SAT的偏差，如果這個(gè)偏移是在故意手動(dòng)控制設(shè)定值（例如偏移的形式，如果所需的設(shè)定點(diǎn)為1000°F時(shí)，設(shè)置控制儀集點(diǎn)在1003°F）。這不應(yīng)被納入修正因素包括：

.對(duì)控制或記錄儀應(yīng)用以前的內(nèi)部調(diào)整或偏移值以糾正SAT差異。

這些內(nèi)部調(diào)整或偏移值已經(jīng)反映在顯示或記錄溫度上，不得使用兩次

手動(dòng)施加偏移到已完全糾正偏移溫度的指定的生產(chǎn)熱處理控制儀表。這些手動(dòng)偏移對(duì)一個(gè)SAT的進(jìn)行或SAT差異的計(jì)算沒有影響。

示例 ：

例1：在最后的TUS或SAT測(cè)試中沒有用偏移值和對(duì)使用儀器或傳感器沒有使用校正因子。

例2:在最后TUS和SAT測(cè)試中沒有用偏移值，在生產(chǎn)過程中，儀器和傳感器校檢的修正系數(shù)由操作人員手動(dòng)添加。

例3：TUS和先前SAT測(cè)試沒有用到偏移值，儀器和傳感器校檢的修正系數(shù)要編程到控制或記錄儀器-“修正”讀數(shù)應(yīng)用于產(chǎn)品生產(chǎn)。

例4：先前的SAT測(cè)試沒有偏移值，但是儀器、傳感器的修正系數(shù)和最后一次TUS測(cè)試的偏移值編程到控制和記錄儀器。-該修正讀數(shù)用于生產(chǎn)中。在這個(gè)例子中，最后的TUS測(cè)試顯示爐溫與控制偶相比為+ 2度（暖），所以+2度的偏移被編程到控制儀表使得控制器顯示工作區(qū)的溫度。

例5：在先前的SAT測(cè)試有-1.5的偏移值，并編程到儀器，儀器和先前傳感器校檢沒有用到偏移值，儀器和傳感器校檢的修正系數(shù)要編程到控制或記錄儀器-該修正讀數(shù)用于生產(chǎn)中。在這個(gè)例子中，最后的TUS測(cè)試顯示爐溫與控制偶相比為+ 4度（暖），所以+4度的偏移被編程到控制儀表使得控制器顯示工作區(qū)的溫度。請(qǐng)注意，所得的計(jì)算顯示與SAT有一個(gè)-5度的差異。

確定先前是否將內(nèi)部控制或記錄和傳感器在操作中進(jìn)行手動(dòng)調(diào)節(jié)，或者編程到被測(cè)試的控制或記錄儀器。

實(shí)例 1 2 3 4 5

實(shí)例狀態(tài)

用于最后一次TUS測(cè)試的補(bǔ)償 無(wú) 無(wú) 無(wú) 編入+2°補(bǔ)償量 編入+4°補(bǔ)償量

用于最后一次SAT測(cè)試的補(bǔ)償 無(wú) 無(wú) 無(wú) 無(wú) 編入儀器-1.5

生產(chǎn)中應(yīng)到的儀器修正因子（Binst） 無(wú) 手動(dòng) （Binst）

編入儀器 （Binst）

編入儀器 （Binst）

編入儀器

生產(chǎn)中應(yīng)到的傳感器修正因子（Btc） 無(wú) 手動(dòng) （Btc）

編入儀器 （Btc）

編入儀器 （Btc）

編入儀器

顯示儀器（A） 1500° 1011° 2225° 1502° 2104°

儀器校檢的手動(dòng)修正因子（Binst） +3° N/A N/A N/A

熱電偶的手動(dòng)修正系數(shù)（Btc） -1° N/A N/A N/A

源于控制或記錄儀器TUS補(bǔ)償?shù)男拚�系�?shù)（Btus） -2° -4°

A+Binst+Btc+Btus=控制或記錄儀器的修正溫度 1500° 1013° 2225° 1500° 2100°

測(cè)試儀器讀數(shù)（未經(jīng)修正的）（D） 1505.0° 1013.3° 2220.0° 1505.0° 2106°

測(cè)試熱電偶的修正系數(shù)（E） -1.0° -1.0° -1.0° -1.0° -1.4°

測(cè)試儀器的修正系數(shù)（F） +0.2° +0.2° +0.2° +0.2° +0.4°

（D）+（E）+（F）=真正的測(cè)試溫度（G） 1504.2° 1012.5° 2219.2° 1504.2° 2105.0°

SAT差異=(C)-(G) -4.2° -0.5° +5.8° -4.2° -5.0°

圖6-SAT校檢實(shí)例

3.4.5.4 如果SAT的差異（包括控制或記錄儀在表6或7允許任何的調(diào)整之前）超過表6或7對(duì)爐子級(jí)別和被測(cè)試儀器儀表類規(guī)定的允許差。在額外的熱加工前，應(yīng)對(duì)故障進(jìn)行記錄，對(duì)引起故障的進(jìn)行原因分析，及采取糾正措施。第4.2段應(yīng)適用

3.4.5.5如果SAT測(cè)試差異超過表6或7（如適用）的限制，應(yīng)采取糾正措施，糾正措施可能包括，但不限于以下任何一項(xiàng)：

3.4.5.5.1更換超差的傳感器和/或引線。

3.4.5.5.2重新校準(zhǔn)超差的儀器。

3.4.5.5.3 如果原因是，全部或部分，是由于被檢測(cè)傳感器的記錄位置移動(dòng)的結(jié)果，傳感器應(yīng)返回到它的記錄位置和重新進(jìn)行SAT測(cè)試。

3.4.5.6 控制或記錄儀器校準(zhǔn)調(diào)節(jié)是在表6或7的允許最大調(diào)整限制范圍進(jìn)行。這種調(diào)整在整個(gè)工作溫度范圍內(nèi)的效果進(jìn)行評(píng)價(jià)。第4.2段應(yīng)適用。

3.4.5.7 完成糾正措施以后，在任何熱加工處理之前，需要按照3.4.5的要求重新進(jìn)行SAT測(cè)試。

3.4.6 備用的SAT流程

對(duì)于僅使用一次（一次使用）或多次使用的傳感器在短于適用SAT間隔的間隔時(shí)間內(nèi)更換，定義的一個(gè)操作程序其中：

3.4.6.1從傳感器的連接點(diǎn)（這包括連接器、引線和儀器的校檢）開始，滿足表3要求的控制、記錄和監(jiān)視儀器的常規(guī)校檢應(yīng)符合3.2.5的要求，并且：

3.4.6.1.1為傳感器建立適當(dāng)?shù)男�檢范圍，傳感器與儀器/引線和連接器的校檢相結(jié)合，若適用，要滿足表6、7的SAT測(cè)試要求，或者

3.4.6.1.2使用手動(dòng)或通過編程應(yīng)用適當(dāng)?shù)男Ｕ�因子，所允許的表1中的校準(zhǔn)限制，適當(dāng)?shù)�。使用�?校檢范圍允許的、適于手動(dòng)或通過編程的合適的校正因子，以便使記錄，監(jiān)控或控制儀器中使用的數(shù)據(jù)滿足表6或7的SAT的要求，若適用。

3.4.7 SAT的豁免

當(dāng)滿足3.4.7.1到3.4.7.6的所有要求時(shí)，對(duì)SAT的要求可以免除。

3.4.7.1除了所需的A到D的儀器，通常每個(gè)控制區(qū)至少兩個(gè)記錄負(fù)荷傳感器，一個(gè)監(jiān)測(cè)和一個(gè)控制。

3.4.7.1.1在儀器類型A和B的情況下，將有一個(gè)額外的負(fù)荷傳感器。

3.4.7.1.2對(duì)控制器的設(shè)定點(diǎn)進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整，根據(jù)觀察到的負(fù)載傳感器的讀數(shù)提供可接受的控制�？刂曝�(fù)載傳感器，在這種情況下，不需要物理連接到加熱爐控制器。

3.4.7.2 用于控制的負(fù)載傳感器需滿足3.1.4.2，用于監(jiān)視的負(fù)載傳感器需滿足3.1.5.

3.4.7.3 所有的貴金屬負(fù)載熱電偶應(yīng)為非易耗型，在使用時(shí)可以被替換或季度性的重新校檢。

3.4.7.4 所有的廉金屬控制和記錄熱電偶使用時(shí)應(yīng)每年進(jìn)行替換。

3.4.7.5所有的廉金屬控制和記錄熱電偶使用時(shí)應(yīng)每2年進(jìn)行替換。

3.4.7.6 負(fù)載傳感器任何時(shí)候的重新校檢和替換至少每周進(jìn)行一次觀察，和記錄，揭示他們的讀數(shù)與控制、監(jiān)視和記錄傳感器之間的不可解釋的差異。

每周讀數(shù)還必須證明控制傳感器和一個(gè)額外的監(jiān)測(cè)傳感器之間的關(guān)系，在最近的一次溫度均勻性測(cè)量關(guān)系保持在2 °F（1°C）之內(nèi)，

3.4.8記錄

3.4.8.1每支傳感器的系統(tǒng)精度測(cè)試報(bào)告應(yīng)包括：

a. Identification of the sensor being tested 被測(cè)試傳感器的編號(hào)

b.Identification of the test sensor測(cè)試傳感器編號(hào)

c.Identification of the test instrument 測(cè)試儀器編號(hào)

d.Date and time of day of the test測(cè)試日期及時(shí)間

e.Set point of the furnace during test測(cè)試時(shí)爐子的設(shè)定點(diǎn)溫度

f.Observed furnace instrument reading 觀察到的爐子儀表讀數(shù)

g.Observed test instrument reading觀察到測(cè)試儀表讀數(shù)

h.Test sensor and test instrument correction factors測(cè)試傳感器和測(cè)試儀表的修正系數(shù)

i.Corrected test instrument reading 修正的測(cè)試儀表讀數(shù)

j.Calculated system accuracy difference計(jì)算系統(tǒng)精度差異

k.Indication of test acceptance or failure 測(cè)試成功或失敗的指示

l.Identification of technician performing the test執(zhí)行測(cè)試的技術(shù)編號(hào)

m. SAT company (if not performed in-house)測(cè)試單位（如果不是自家測(cè)試的）

n.Signature of the calibration company (if not performed in-house)測(cè)試公司的簽名（如果不是自家測(cè)試的）

o.Quality Organization approval.質(zhì)量部門的批準(zhǔn)

3.5 爐溫均勻性測(cè)試 (TUS)

3.5.1應(yīng)進(jìn)行一個(gè)初始的TUS測(cè)試來(lái)測(cè)量溫度均勻性和建立可接受的工作區(qū)和合格的操作溫度范圍（的）。周期性的TUS應(yīng)按照表8或表9所示的間隔進(jìn)行。

3.5.2多個(gè)合格的操作溫度范圍

一臺(tái)爐子可能有多個(gè)合格的操作溫度范圍。比如，一臺(tái)爐子可能在±10 °F 從 600 到1000 °F (±6 °C 從 315 到 540 °C) 和±25 °F 從 1000 到1800 °F (±14 °C from 540 到980 °C)溫度段使用.  這臺(tái)爐子包括了2個(gè)獨(dú)立的合格操作溫度范圍。一臺(tái)爐子在 1000 °F滿足±10 °F 自然在 1000 °F也能滿足 ±25 °F ，因此不需要該溫度下進(jìn)行重復(fù)測(cè)試。

3.5.3爐子的改造

在爐子進(jìn)行過任何可能影響爐溫均勻性的改造或調(diào)整后，需要進(jìn)行一次原始的TUS測(cè)試，如原始的TUS測(cè)試包括，但不局限于以下內(nèi)容：

a.提高最大的合格操作溫度或降低最低合格操作溫度。

b.燃燒器尺寸，數(shù)量，類型和位置變化

c.加熱元件的數(shù)量，類型和位置變化

d. 氣流模式/速度的變化（擋板的位置，風(fēng)扇轉(zhuǎn)速，風(fēng)扇數(shù)量，等）

e.耐火材料厚度的變化

f.具有不同的熱性能的新型耐火材料

g.真空爐加熱區(qū)設(shè)計(jì)或材料的變化

h.控制傳感器位置的變化

i. 燃燒壓力設(shè)置與原來(lái)的設(shè)置相比的改變。

j. 爐膛壓力設(shè)定變化（阻尼器系統(tǒng)）與原來(lái)的設(shè)置相比。

k. 溫度控制儀/程序的變化

1.比例高低/開關(guān)

2. 控制器型號(hào)或類型的變化

3. PLC程序的變化對(duì)加熱爐控制方案

4. 調(diào)諧常數(shù)、參數(shù)、變阻器的調(diào)整

l. 工作區(qū)體積增大覆蓋了以前沒有測(cè)試的區(qū)域

m. 工作區(qū)位置的改變覆蓋了以前沒有測(cè)試的區(qū)域。

所有爐子的改造應(yīng)該被記錄，質(zhì)量保證部門應(yīng)裁決在爐子重新使用之前，是否需要根據(jù)爐子的改造和特定的爐體結(jié)構(gòu)進(jìn)行一次原始的TUS測(cè)試。